ISO/IEC 10373-6:2011/Cor 1:2013
ID カード、試験方法、パート 6: 近接カード、技術訂正事項 1: R2 値範囲、PICC 送信開始および EMD レベル測定手順、技術訂正事項 1
- 規格番号
- ISO/IEC 10373-6:2011/Cor 1:2013
- 制定年
- 2013
- 出版団体
- International Organization for Standardization (ISO)
- 状態
- に置き換えられる
- ISO/IEC 10373-6:2016
- 最新版
- ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 1:2021
ISO/IEC 10373-6:2011/Cor 1:2013 発売履歴
- 2021 ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 1:2021 強化連携改造1
- 2020 ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 2:2020 連携を強化する
- 2020 ISO/IEC 10373-6:2020 ID カード - テスト方法 - パート 6: 近接カード
- 2018 ISO/IEC 10373-6:2016/Amd 3:2018 強化連携改造3
- 2016 ISO/IEC 10373-6:2016 ID カード、テスト方法、パート 6: 短距離カード
- 2013 ISO/IEC 10373-6:2011/Cor 1:2013 ID カード、試験方法、パート 6: 近接カード、技術訂正事項 1: R2 値範囲、PICC 送信開始および EMD レベル測定手順、技術訂正事項 1
- 2012 ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 4:2012 ID カード、テスト方法、パート 6: 短距離カード、変更 4: フレーム サイズ 512 ～ 4096 バイト、ビット レート fc/8、fc/4、fc/2
- 2012 ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 3:2012 ID カード、試験方法、パート 6: 短距離カード、修正 3: その他のパラメータ、バッチ番号、不一致の AFI と TR2 の交換
- 2012 ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 2:2012 ID カード 試験方法 パート 6: 短距離カード 修正 2: 電磁干渉試験方法
- 2012 ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 1:2012 ID カード、テスト方法、パート 6: 近接カード、修正 1: 追加の PICC レベル
- 2011 ISO/IEC 10373-6:2011 ID カード、テスト方法、パート 6: 短距離カード
- 2010 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 7:2010 ID カード テスト方法 パート 6: 短距離カード 修正 7: 電子パスポートのテスト方法
- 2007 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 5:2007 ID カード、テスト方法、パート 6: 近接カード、修正 5: fc/64、fc/32、および fc/16 のビット レート
- 2007 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 1:2007 ID カード. テスト方法. パート 6: 近接カード. 修正 1: 近接カードのプロトコル テスト方法
- 2006 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 4:2006 ID カード. テスト方法. パート 6: 近接カード. 修正 4: PCD RF インターフェイスおよび PICC 交流電界曝露のための追加のテスト方法
- 2006 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 3:2006 ID カード テスト方法 パート 6: 短距離カード 修正 3: 短距離接続デバイスの調整されたテスト方法
- 2003 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 2:2003 ID カード、テスト方法、パート 6: 短距離カード、修正 2: 改良された RF テスト方法
- 2001 ISO/IEC 10373-6:2001 ID カード試験方法パート 6: 短距離カード
