ISO/IEC 10373-6:2001
ID カード試験方法パート 6: 短距離カード

規格番号

ISO/IEC 10373-6:2001

制定年

2001

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

状態

撤回

に置き換えられる

ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 2:2003

最新版

ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 1:2021

範囲

この国際規格は、ISO/IEC7810 で与えられた定義に従って、ID カードの特性の試験方法を定義します。 各テスト方法は、ISO/IEC7810 または ID カード アプリケーションで使用される情報ストレージ技術を定義する 1 つ以上の補足規格など、1 つ以上の基本規格と相互参照されています。 注 1 許容基準はこの国際規格の一部ではありませんが、上記の国際規格に記載されています。 注 2 この国際規格に記載されている試験方法は、個別に実施されることを目的としています。 特定のカードがすべてのテストを順番に通過する必要はありません。 ISO/IEC 10373 のこの部分は、非接触集積回路カード技術 (近接カード) に特有のテスト方法を扱います。 ISO/IEC 10373-1 の一般特性は、1 つ以上の ICC テクノロジーに共通のテスト方法を扱い、他の部分は他のテクノロジー固有のテストを扱います。 特に指定がない限り、ISO/IEC 10373 のこの部分のテストは、ISO/IEC 14443-1 および ISO/IEC 14443-2 で定義されている近接カードにのみ適用されます。

ISO/IEC 10373-6:2001 発売履歴

• 2021 ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 1:2021 強化連携改造1
• 2020 ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 2:2020 連携を強化する
• 2020 ISO/IEC 10373-6:2020 ID カード - テスト方法 - パート 6: 近接カード
• 2018 ISO/IEC 10373-6:2016/Amd 3:2018 強化連携改造3
• 2016 ISO/IEC 10373-6:2016 ID カード、テスト方法、パート 6: 短距離カード
• 2013 ISO/IEC 10373-6:2011/Cor 1:2013 ID カード、試験方法、パート 6: 近接カード、技術訂正事項 1: R2 値範囲、PICC 送信開始および EMD レベル測定手順、技術訂正事項 1
• 2012 ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 4:2012 ID カード、テスト方法、パート 6: 短距離カード、変更 4: フレーム サイズ 512 ～ 4096 バイト、ビット レート fc/8、fc/4、fc/2
• 2012 ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 3:2012 ID カード、試験方法、パート 6: 短距離カード、修正 3: その他のパラメータ、バッチ番号、不一致の AFI と TR2 の交換
• 2012 ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 2:2012 ID カード 試験方法 パート 6: 短距離カード 修正 2: 電磁干渉試験方法
• 2012 ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 1:2012 ID カード、テスト方法、パート 6: 近接カード、修正 1: 追加の PICC レベル
• 2011 ISO/IEC 10373-6:2011 ID カード、テスト方法、パート 6: 短距離カード
• 2010 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 7:2010 ID カード テスト方法 パート 6: 短距離カード 修正 7: 電子パスポートのテスト方法
• 2007 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 5:2007 ID カード、テスト方法、パート 6: 近接カード、修正 5: fc/64、fc/32、および fc/16 のビット レート
• 2007 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 1:2007 ID カード. テスト方法. パート 6: 近接カード. 修正 1: 近接カードのプロトコル テスト方法
• 2006 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 4:2006 ID カード. テスト方法. パート 6: 近接カード. 修正 4: PCD RF インターフェイスおよび PICC 交流電界曝露のための追加のテスト方法
• 2006 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 3:2006 ID カード テスト方法 パート 6: 短距離カード 修正 3: 短距離接続デバイスの調整されたテスト方法
• 2003 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 2:2003 ID カード、テスト方法、パート 6: 短距離カード、修正 2: 改良された RF テスト方法
• 2001 ISO/IEC 10373-6:2001 ID カード試験方法パート 6: 短距離カード