DS/EN 60749-27/A1:2013
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 27 部: 静電気放電 (ESD) 感度試験機モデル (MM)
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DS/EN 60749-27/A1:2013
規格番号
DS/EN 60749-27/A1:2013
制定年
2013
出版団体
Danish Standards Foundation
最新版
DS/EN 60749-27/A1:2013
範囲
定義されたマシンモデル (MM) の静電気放電 (ESD) への曝露による損傷または劣化の受けやすさに応じて、半導体デバイスをテストおよび分類するための標準手順を確立します。 代替テストとして使用される場合があります
DS/EN 60749-27/A1:2013 発売履歴
2013
DS/EN 60749-27/A1:2013
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 27 部: 静電気放電 (ESD) 感度試験機モデル (MM)
2006
DS/EN 60749-27:2006
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 27 部: 静電気放電 (ESD) 感度試験機モデル (MM)
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