DS/EN 60749-27:2006
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 27 部: 静電気放電 (ESD) 感度試験機モデル (MM)
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DS/EN 60749-27:2006
規格番号
DS/EN 60749-27:2006
制定年
2006
出版団体
Danish Standards Foundation
状態
入れ替わる
2013-01
に置き換えられる
DS/EN 60749-27/A1:2013
最新版
DS/EN 60749-27/A1:2013
範囲
60749 のこの部分は、定義されたマシンモデル (MM) の静電気放電 (ESD) への曝露による損傷または劣化の受けやすさに応じて半導体デバイスをテストおよび分類するための標準手順を確立します。 人体モデル ESD 試験法の代替試験法として使用できます。 目的は、正確な分類を実行できるように、信頼性が高く再現性のある ESD テスト結果を提供することです。
DS/EN 60749-27:2006 発売履歴
2013
DS/EN 60749-27/A1:2013
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 27 部: 静電気放電 (ESD) 感度試験機モデル (MM)
2006
DS/EN 60749-27:2006
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 27 部: 静電気放電 (ESD) 感度試験機モデル (MM)
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