GB/T 18910.1-2012
液晶表示装置 第1部 一般仕様 (英語版)

規格番号

GB/T 18910.1-2012

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2012

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 18910.1-2012

交換する

GB/T 18910.1-2002

範囲

GB/T 18910 のこの部分は、液晶表示装置の一般仕様です。 IECQ システムの品質評価の一般的な手順を指定し、電気光学特性の試験方法の一般要件を示し、気候、機械的および耐久性の試験方法を示します。 このセクションは、液晶ディスプレイ デバイスに適用されます。 液晶表示画面および液晶表示モジュール、

GB/T 18910.1-2012 規範的参照

• GB/T 17573-1998 半導体デバイス ディスクリート デバイスおよび集積回路 パート 1; 概要
• GB/T 18910.11-2012 液晶表示装置 第 1-1 部 用語と記号
• GB/T 18910.5-2008 液晶および固体表示デバイス パート 5: 環境、耐久性、および機械的試験方法
• GB/T 18910.61-2012 液晶表示デバイス パート 6-1: 液晶表示デバイスの試験方法 光電子パラメータ
• GB/T 4589.1-2006 半導体デバイス パート 10: ディスクリートデバイスおよび集積回路の一般仕様
• IEC 60068 コンポーネントの基本的な気候および機械的堅牢性試験手順
• IEC 60410:1973 計数検査のサンプリング計画と手順
• IEC 60747 半導体デバイス パート 9: ディスクリートデバイス 絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ*， 2019-11-13 更新するには
• IEC 60748 半導体デバイス集積回路パート 5: セミカスタム集積回路
• IEC 60749:1996 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法
• ISO 1101:1983 技術図面 幾何公差 形状、方向、位置、および振れ公差図面の概要、定義、記号および表現
• ISO 2859 属性別検査のためのサンプリング手順と表 補足 1
• QC 001002-1986 IEC電子部品品質評価制度手順規定

GB/T 18910.1-2012 発売履歴

• 2012 GB/T 18910.1-2012 液晶表示装置 第1部 一般仕様
• 2002 GB/T 18910.1-2002 液晶および固体表示デバイス 第 1 部、一般仕様

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