GB/T 4589.1-2006
半導体デバイス パート 10: ディスクリートデバイスおよび集積回路の一般仕様 (英語版)
- 規格番号
- GB/T 4589.1-2006
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 2006
- 出版団体
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- 最新版
- GB/T 4589.1-2006
- 交換する
- GB/T 4589.1-1989
- 範囲
- この仕様は、国際電気標準会議電子部品品質評価システム (IECQ) の一部を形成します。 この仕様は、半導体デバイス（ディスクリートデバイスおよび集積回路、マルチチップ集積回路を含むが、ハイブリッド回路を除く）に関する一般的な仕様です。 この仕様は、IECQ システム内で使用される品質評価の一般的な手順を指定し、次の一般原則を示します。 - 電気的特性の試験方法。 - 気候および機械的テスト; ——耐久性テスト。
GB/T 4589.1-2006 発売履歴
- 2006 GB/T 4589.1-2006 半導体デバイス パート 10: ディスクリートデバイスおよび集積回路の一般仕様
- 1989 GB/T 4589.1-1989 半導体デバイスのディスクリートデバイスおよび集積回路の一般仕様 (認証可能)
