DS/EN 60749-32+Corr.1:2004
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 32 部: プラスチックパッケージデバイスの可燃性 (外部誘起)

規格番号

DS/EN 60749-32+Corr.1:2004

制定年

2004

出版団体

Danish Standards Foundation

状態

入れ替わる 2010-11

に置き換えられる

DS/EN 60749-32/A1:2010

最新版

DS/EN 60749-32/A1:2010

範囲

IEC 60749 のこの部分は、半導体デバイス (ディスクリート デバイスおよび集積回路) に適用されます。 このテストの目的は、外部加熱によりデバイスが発火するかどうかを判断することです。 このテストでは針炎を使用し、デバイスを含む機器内の障害状態から生じる可能性のある小さな炎の影響をシミュレートします。

DS/EN 60749-32+Corr.1:2004 発売履歴

• 2010 DS/EN 60749-32/A1:2010 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 32 部: プラスチックパッケージデバイスの可燃性 (外部誘起)
• 2004 DS/EN 60749-32+Corr.1:2004 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 32 部: プラスチックパッケージデバイスの可燃性 (外部誘起)