DS/EN 60749-32/A1:2010
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 32 部: プラスチックパッケージデバイスの可燃性 (外部誘起)

規格番号

DS/EN 60749-32/A1:2010

制定年

2010

出版団体

Danish Standards Foundation

最新版

DS/EN 60749-32/A1:2010

範囲

このテストは半導体デバイス (個別デバイスおよび集積回路) に適用され、外部加熱によってデバイスが発火するかどうかを判断します。 このテストでは針炎を使用し、デバイスを含む機器内の障害状態から生じる可能性のある小さな炎の影響をシミュレートします。

DS/EN 60749-32/A1:2010 発売履歴

• 2010 DS/EN 60749-32/A1:2010 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 32 部: プラスチックパッケージデバイスの可燃性 (外部誘起)
• 2004 DS/EN 60749-32+Corr.1:2004 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 32 部: プラスチックパッケージデバイスの可燃性 (外部誘起)