GB/T 5170.19-2005
電気・電子製品環境試験装置の基本パラメータの校正方法 温度・振動(正弦波)総合試験装置 (英語版)
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GB/T 5170.19-2005
規格番号
GB/T 5170.19-2005
言語
中国語版,
英語で利用可能
制定年
2005
出版団体
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
状態
入れ替わる
2019-07
に置き換えられる
GB/T 5170.19-2018
最新版
GB/T 5170.19-2018
交換する
GB/T 5170.19-1989
範囲
この部では、定期検証における温度・振動(正弦波)総合試験装置の検証項目、主な検証機器と検証要件、検証条件、測定点の数と位置、検証手順、データ処理と検証結果を規定します。 この部分は GB/T 2423.35-1986「電気および電子製品の基本環境試験規則 Test Z/Afc: 放熱および非放熱試験サンプルの低温/振動 (正弦波) 総合試験方法」および GB/T に適用されます。 2423.36-1986 (電気および電子製品の基本的な環境試験手順 試験 Z/BFc: 高温/振動 (正弦波) 放熱および非放熱試験サンプルの総合試験方法」使用した試験装置の定期的な検証。 温度/振動 (正弦波) 総合試験装置、温度ボックス (チャンバー) および振動テーブル (追加テーブルを含む) は、GB/T 5170.2-1996 および GB/T 5170.13 ~ GB/T 5170.15 に指定された方法に従って検証する必要があります。 包括的検証は検証に合格した後にのみ実行できますが、この部分は同様の試験装置の定期検証にも適用されます。
GB/T 5170.19-2005 規範的参照
GB/T 2423.1-2001
電気・電子製品の環境試験その2 試験方法試験A:低温
GB/T 2423.2-2001
電気・電子製品の環境試験その2 試験方法 試験B:高温
GB/T 2423.35-1986
電気・電子製品の基本的な環境試験手順 Test Z/AFc:放熱試験サンプルと非放熱試験サンプルの総合的な低温・振動(正弦波)試験方法
GB/T 2423.36-1986
電気・電子製品の基本的な環境試験手順 試験Z/BFc:放熱サンプルと非放熱サンプルに対する総合的な高温/振動(正弦波)試験方法
GB/T 5170.1-1995
電気・電子製品の環境試験装置の基本パラメータの検証方法に関する一般原則
GB/T 5170.19-2005 発売履歴
2018
GB/T 5170.19-2018
環境試験装置の検査方法 第19部:温度、振動(正弦波)総合試験装置
2005
GB/T 5170.19-2005
電気・電子製品環境試験装置の基本パラメータの校正方法 温度・振動(正弦波)総合試験装置
1989
GB/T 5170.19-1989
電気・電子製品環境試験装置の基本パラメータの校正方法 温度・振動(正弦波)総合試験装置
GB/T 5170.19-2005 - すべての部品
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