GB/T 2423.1-2001
電気・電子製品の環境試験その2 試験方法試験A：低温 (英語版)

規格番号

GB/T 2423.1-2001

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2001

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

状態

入れ替わる 2009-10

に置き換えられる

GB/T 2423.1-2008

最新版

GB/T 2423.1-2008

範囲

この規格に含まれる低温試験は、非放射試験サンプルと熱放散試験サンプルの両方に適用されます。 非放熱テストサンプルの場合、テスト Aa および Ab は以前に公開された基準から逸脱しません。 この規格は、低温環境条件下での保管および（または）使用に対する電気および電子製品（コンポーネント、機器、その他の製品を含む）の適応性の評価または決定に限定されています。 この低温試験は、温度変化に対する試験サンプルの耐性や温度変化時の動作能力を評価するために使用することはできません。 その場合は、試験 N: 温度変化試験方法を使用する必要があります。 低温試験方法は以下の3つに分類されます。 非放射線試験サンプルの低温試験： 　——試験Aa：温度急変 ---- 試験Ab：温度緩やか変化 放熱試験サンプル低温試験： 　——試験広告: 温度勾配 この試験方法は一般に、コンディショニング試験中に温度が安定する試験サンプルに使用されます。 試験時間は試験サンプルの温度が安定した時間から計算されます。 特別な場合において、条件付き試験中に試験サンプルが安定した温度に達しない場合、試験時間は試験室（チャンバー）が指定された試験温度に達した時間から計算されます。 関連する仕様では、次のことを規定する必要があります。 a) 試験室 (チャンバー) 内の温度変化率。 b) 試験サンプルが試験室（チャンバー）内に置かれた時間。 c) 試験サンプルが試験条件にさらされる時間。 d) テストサンプルの電源がオンになっているか、ロード時間です。 これらの条件の下で、関連仕様のメーカーは GB/T 2424.1-1989 ガイドラインに従って上記 4 つのパラメータを選択できます (上記の条件での改訂は検討中です)。

GB/T 2423.1-2001 発売履歴

• 2008 GB/T 2423.1-2008 電気および電子製品の環境試験 パート 2: 試験方法 試験 A: 低温
• 2001 GB/T 2423.1-2001 電気・電子製品の環境試験その2 試験方法試験A：低温

GB/T 2423.1-2001 - すべての部品