GB/T 5201-2012
荷電粒子半導体検出器の測定方法 (英語版)
- 規格番号
- GB/T 5201-2012
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 2012
- 出版団体
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- 最新版
- GB/T 5201-2012
- 交換する
- GB/T 5201-1994
- 範囲
- この規格は、荷電粒子半導体検出器の電気的特性および核放射線性能の測定方法および一部の特殊な環境における試験方法を規定しています。 この規格は、荷電粒子の部分的に空乏層を備えた半導体検出器に適用されます。 完全空乏型半導体検出器の測定は、この規格を参照して実行できます。
GB/T 5201-2012 規範的参照
- GB/T 10263-2006 核放射線検出器の環境条件と試験方法
- GB/T 13178-2008 金シリコン表面バリア検出器
- GB/T 4960.6-2008 原子力科学技術用語パート 6: 核計装
GB/T 5201-2012 発売履歴
- 2012 GB/T 5201-2012 荷電粒子半導体検出器の測定方法
- 1994 GB/T 5201-1994 荷電粒子半導体検出器の試験方法
