GB/T 5201-1994
荷電粒子半導体検出器の試験方法 (英語版)
- 規格番号
- GB/T 5201-1994
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 1994
- 出版団体
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- 状態
- 2012-11
- に置き換えられる
- GB/T 5201-2012
- 最新版
- GB/T 5201-2012
- 範囲
- この規格は、荷電粒子半導体検出器の電気的特性および核放射線性能の試験方法、および一部の特殊な環境における試験方法を規定しています。 この規格は、荷電粒子を検出する部分空乏型金シリコン表面バリアタイプ、リチウムドリフト金シリコン表面バリアタイプ、および表面パッシベーションイオン注入プレーナシリコンタイプの半導体検出器に適用されます。
GB/T 5201-1994 発売履歴
- 2012 GB/T 5201-2012 荷電粒子半導体検出器の測定方法
- 1994 GB/T 5201-1994 荷電粒子半導体検出器の試験方法
