GB/T 28470-2012
産業用プロセス計測および制御システム用の電気および空気圧アナログ計算機の性能評価方法 (英語版)

規格番号

GB/T 28470-2012

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2012

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 28470-2012

範囲

この規格は、アナログ計算機の性能を評価するための統一テスト方法を指定します。 この規格は、次の要件を満たす計算機に適用されます。 a) 産業プロセスの測定および制御システム用。 b) 入出力信号は GB/T 777 または GB/T 3369.1 または GB/T 3369.2 の規定に準拠します。 c) 交通手段がプラス減算、乗算、除算、または平方根である。 d) 通常の作業条件下で使用されます。 他のアナログ信号を入出力とする電卓や、他の交通機関の電卓（比率計算など）についても参照可能です。 特殊な使用条件下で使用される電卓などについては、電卓の使用条件に応じて標準で適用可能な試験と必要な追加試験を選択することができます。

GB/T 28470-2012 規範的参照

• GB 4208 筐体保護レベル（IPコード）
• GB 4793.1 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 1: 一般要件
• GB/T 16511 電気および電子測定機器に関するランダムな文書
• GB/T 16842 シェルによる人体および機器の保護をテストするためのテストツール*， 2016-02-24 更新するには
• GB/T 17626.2 電磁適合性試験および測定技術 静電気放電イミュニティ試験*， 2018-06-07 更新するには
• GB/T 17626.3 電磁両立性試験・測定技術 第3部：高周波電磁界放射イミュニティ試験*， 2023-12-28 更新するには
• GB/T 17626.4 電磁両立性試験および測定技術 電気的高速過渡バースト耐性試験*， 2018-06-07 更新するには
• GB/T 17626.5 電磁適合性試験および測定技術 サージ（衝撃）イミュニティ試験*， 2019-06-04 更新するには
• GB/T 17626.8 電磁適合性試験および測定技術 電源周波数磁界イミュニティ試験
• GB/T 18271.1 プロセス測定および制御装置の一般的な性能評価の方法と手順 パート 1: 一般*， 2017-07-12 更新するには
• GB/T 18271.2-2000 プロセス測定および制御装置の一般的な性能評価の方法と手順 パート 2: 基準条件下でのテスト
• GB/T 18271.3-2000 プロセス測定および制御装置の一般的な性能評価の方法と手順 パート 3; 影響を与える量の影響に関するテスト
• GB/T 18271.4 プロセス計測制御装置の一般的な性能評価方法と手順 第 4 部：評価報告書の内容*， 2017-07-12 更新するには
• GB/T 20819.1 産業用プロセス制御システム用アナログ信号変換器 第1部：性能評価方法*， 2015-02-04 更新するには
• GB/T 2828.1 目録抜き取り検査手順その1：合格品質限界（AQL）から探すロットごとの抜き取り検査計画*， 2013-02-15 更新するには
• JB/T 50187-1999 プロセス制御機器の信頼性要件と評価方法
• JB/T 9329 機器の輸送、運搬、保管に関する基本的な環境条件と試験方法

GB/T 28470-2012 発売履歴

• 2012 GB/T 28470-2012 産業用プロセス計測および制御システム用の電気および空気圧アナログ計算機の性能評価方法