GB/T 17626.4-2018
電磁両立性試験および測定技術 電気的高速過渡バースト耐性試験 (英語版)

規格番号

GB/T 17626.4-2018

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2018

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 17626.4-2018

交換する

GB/T 17626.4-2008

範囲

GB/T 17626 のこの部分では、反復的な電気的高速過渡現象に対する電気および電子機器のイミュニティ要件とテスト方法を扱います。 また、試験レベルの範囲や試験手順も規定されています。 この規格の目的は、電気的高速過渡バーストにさらされたときの電気および電子機器の電源ポート、信号、制御および接地ポートの性能を評価するための、再現可能な共通の基準を決定することです。 この規格で指定されているテスト方法は、定義された現象に対する機器またはシステムの耐性を評価する一貫した方法を記述しています。 注: IEC ガイド 107 に記載されているように、この部分は電磁適合性の基本規格であり、さまざまな製品委員会によって使用されています。 また、IEC ガイド 107 では、製品委員会がこのイミュニティ試験規格を適用するかどうかを決定し、使用する場合には適切なテスト レベルと性能基準を決定する責任があると規定しています。 国家電磁両立性標準化技術委員会とその小委員会は、製品の特別な耐性要件を評価するために製品委員会と協力することに前向きです。 この部分は以下を指定します: 　——テスト電圧波形。 --- テストレベルの範囲; 　——- 試験装置; 　——試験装置の校正および検証手順。 --- テストの手配。 --- テスト手順。 このセクションでは、実験室および現場でのテストの技術仕様を示します。 0.10 0.10 0.15 40 30 確率密度単位 ui (y) 単位 -1.02 0.041 ns 1.02 0.152 ns 0.010 ns 係数 u (xi )2。 範囲 0.0073 確率密度単位次数分布係数 u (xi )ci 単位 ui (y) 単位 2。 範囲 0.8 30 確率密度単位次数分布係数 u (xi )ci 単位 ui (y) 単位 1.73 0.462 0.328 V/MHz 0.152 V0。 162 kV3.75 kV 関数 MHz 長方形 MHz 長方形 1.73 17.32 -0.0058 uc (y)=V/ MHz ∑ui (y)2 範囲 0.10 0.10 確率密度単位次数分布係数 u (xi )2。 範囲 確率密度 単位 0 ns 1.5 ns B7.0 MHz 0.8 MHz 400 MHz 30 u (xi )ci 単位 ui (y) 単位 1.00 1.50 1.00 ns 1.50 ns 1.73 0.462 0.0021 ns 関数 δRβ 因子次数分布 MHz 正規 (k=1)方形 1.73 方形/MHz -0.0045 ns 17.32 8.0×10 -5 uc (y)=/MHz ns 2

GB/T 17626.4-2018 規範的参照

• GB/T 4365-2003 電気用語 電磁両立性
• IEC 60050 国際電気技術語彙 (IEV) - 索引

GB/T 17626.4-2018 発売履歴

• 2018 GB/T 17626.4-2018 電磁両立性試験および測定技術 電気的高速過渡バースト耐性試験
• 2008 GB/T 17626.4-2008 電磁両立性 試験および測定技術 電気的高速過渡バースト耐性試験
• 1998 GB/T 17626.4-1998 電磁両立性試験および測定技術 電気的高速過渡バースト耐性試験

GB/T 17626.4-2018 - すべての部品