ISO 25297-1:2012
光学およびエレクトロニクス 光学データの電子交換 パート 1: NODIF 情報モデル

規格番号

ISO 25297-1:2012

制定年

2012

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

最新版

ISO 25297-1:2012

範囲

ISO 25297 のこの部分では、光学システムおよび光学部品の情報要件を指定し、CAD および CAE を備えたコンピューターを使用する際に、これらの光学システムおよび光学部品の光学設計、光学評価および分析のプロセスをサポートする情報モデルを提供します。 注記 一般に光学系とは、光学素子とそれを装着する鏡筒から構成される、光学的な機能を発揮する光学製品としての光学ユニットを指します。 ISO 25297 のこの部分では、光学システムとは、光学部品と光学アセンブリの集合体です。 たとえば、ファインダー システムやリーフ シャッター カメラの撮影レンズ システムなどです。 この情報モデルは、ISO 10303（全部品）にSTEPに基づく光学設計仕様特有のデータを追加したものです。 付加情報とは、製品仕様情報、光学設計情報、光学評価情報、解析情報である。 ISO 25297 のこの部分は、一般的に Neutral Optical Data Interchange Format (NODIF) と呼ばれます。 以下が範囲内です。 — 製品仕様、光学設計、光学評価および分析に関する情報。 - カメラやコピー機などの画像システム、望遠鏡や顕微鏡用の観察システム、プロジェクターやピックアップ レンズなどのその他の光学システムの光学システムおよび部品。 — ズームレンズやインナーフォーカスシステムを含む複数構成の光学システム。 — 光路の定義（光線経路の順序と光学面の配置を含む） — 接合部品や動的部品を含む光学アセンブリ。 — 光学面形状の数学的記述。 — 回折面の説明。 — 研磨、成形、複製などの機械加工プロセスの指定。 — 光学材料の仕様（材料名、ロット番号、測定された屈折率など） — 各光学部品の形状および材料特性の光学公差。 - 分離、平行度、変位、傾きなどの組立公差。 - 有効直径、コーティングおよび保護表面処理。 — 焦点距離、後方焦点距離、主点、F ナンバーなどの近軸評価。 - 幾何学的な光線追跡の結果 (つまり、各表面上の光線の方向と交点、および光路長)、収差および波面収差などの光線追跡評価。 — 幾何学的および/または物理光学に基づく OTF 評価。 - 検出面または投影面上の照度分布。 — スペクトル特性; 1 — ゴーストイメージの評価。 — 光学面の変形や材料特性値の変化を伴う熱解析。 — 光学面の変形や材料特性値の変化に伴う応力解析。 — まぶしさのまぶしさと表面の欠陥。 以下は、ISO 25297 のこの部分の範囲外です。 — 機械設計、電子設計、および組み込みソフトウェア設計。 — 光路が変更可能な光学システム、たとえばビームスプリッターや可変倍率コンバーター。 — 機械部品の公差; 　——直径が光の波長の 10 倍未満の部品。 — 誘電率 σ、誘電率 ε、および磁気誘電率 μ が材料と光の間の相互作用の影響を受けない材料で作られた部品。 — 製品の設計、評価、分析から得られるグラフィックドキュメント。 — 光通信用の光導波路。 - 市場調査および顧客分析に関する商品企画情報。 - 設計、評価、分析とは関係のない製品定義および構成管理情報。 — 熱解析および応力解析を除く解析情報（振動解析など）。 — 試作に関する情報、生産計画や生産管理などの生産工程、出荷や修理などの生産後の工程に関する情報。 — 眼科光学系。

ISO 25297-1:2012 規範的参照

• ISO 10110-1 光学とフォトニクス - 光学コンポーネントとシステムの図面の準備パート 1: 概要*， 2019-10-10 更新するには
• ISO 10110-12:2007 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムの図 パート 12: 非球面
• ISO 10110-17:2004 光学および光学機器 光学コンポーネントおよびシステムの図面の準備 パート 17: レーザー放射線による損傷のしきい値
• ISO 10110-2:1996 光学および光学機器 光学コンポーネントおよびシステムの描画の準備 パート 2: 材料の不完全性 応力複屈折
• ISO 10110-3:1996 光学および光学機器 光学コンポーネントおよびシステムの描画の準備 パート 3: 材料の不完全性 気泡および不純物
• ISO 10110-4:1997 光学および光学機器 光学部品およびシステムの製図の準備 パート 4: 材料の不完全性 不均質性と傷
• ISO 10110-5:2007 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムの図面の準備 パート 5: 表面形状公差
• ISO 10110-6:1996 光学および光学機器 光学コンポーネントおよびシステムの製図の準備 パート 6: 中心公差
• ISO 10110-7:2008 光学およびフォトニクス 光学部品および装置の図面の準備 パート 7: 表面欠陥の許容値
• ISO 10110-8 光学とフォトニクス 光学部品とシステム図面の作成 パート 8: 表面構造*， 2019-11-15 更新するには
• ISO 10303-1:1994 産業オートメーション システムと統合製品データの表現と交換 パート 1: 概要と理論的根拠
• ISO 23584-2 光学とフォトニクス ベンチマーク辞書の仕様 パート 2: クラスと属性の定義*， 2012-08-01 更新するには
• ISO 25297-2 光学とフォトニクス 光学データの電子交換 パート 2: ISO 23584 で定義されたクラスとプロパティのマッピング

ISO 25297-1:2012 発売履歴

• 2012 ISO 25297-1:2012 光学およびエレクトロニクス 光学データの電子交換 パート 1: NODIF 情報モデル
• 2010 ISO 25297-1:2010 光学およびエレクトロニクス 光学データの電子交換 パート 1: NODIF 情報モデル