VDI 2267 Blatt 15-2005
質量分析法を使用して周囲空気中の浮遊物質を測定し、ダスト(誘導結合プラズマ)中の Al、As、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、K、Mn、Ni、Pb、Sb、V、Zn の質量濃度を測定します。 質量分析法)

規格番号
VDI 2267 Blatt 15-2005
制定年
2005
出版団体
Association of German Mechanical Engineers
最新版
VDI 2267 Blatt 15-2005
交換する
VDI 2267 Blatt 15-2004
範囲
このガイドラインでは、粉塵堆積中の元素の総含有量を決定するための完全な測定方法が示されています。 このガイドラインの意味における粉塵の堆積とは、曝露期間中に収集容器 (いわゆる収集ポット) に収集された大気中の粒子状物質投入の乾燥残留物を指します。 ダスト粒子に結合し、沈降水に含まれる金属および半金属化合物の大気から収集システムへの物質投入は、沈降によってもたらされます。 典型的な堆積範囲を表 2 に示します。 決定される成分の選択は、例えば 17.BImSchV にリストされている元素に基づき、生態系における物質投入量のバランスに関連する多数の元素を参照しました。 このガイドラインに記載されている測定方法 (セクション 6.3 を参照) で達成できる検出限界により、暴露レベルが低い農村地域でも多くの元素を測定することができます。

VDI 2267 Blatt 15-2005 規範的参照

  • DIN 12924-1:1991 
  • VDI 2119 Blatt 2-1996 粒子状沈殿物の測定 - ガラス製 (ベルガーホフ法) またはプラスチック製の収集ポットを使用した粉塵沈殿物の測定
  • VDI 2267 Blatt 1-1999 周囲空気中の懸濁物質の測定 As、Be、Cd、Co、Cr、Cu、Mn、Ni、Pb、Sb、Tl、Zn 混合物
  • VDI 2267 Blatt 11-1986 Stoffbestimmung an Partikeln in der Aussenluft; Messen der Blei-Massenkonzentration mit Hilfe der energiedispersiven Roentgenfluoreszenzanalyse
  • VDI 2267 Blatt 14-2003 周囲空気中の浮遊物質の測定 - 発光分光法による粉塵堆積物の一部としての Al、As、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、K、Mg、Mn、Na、Ni、Pb、V、Zn の測定(ICP OES)
  • VDI 2267 Blatt 2-1983 大気中の浮遊粒子状物質の測定、蛍光X線による鉛の測定
  • VDI 2267 Blatt 4-1987 Stoffbestimmung an Partikeln in der Aussenluft;
  • VDI 2267 Blatt 5-1997 周囲空気中の浮遊物質の測定 Be、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Mn、Ni、Pb、Sb、V、Zn の質量濃度の測定 サンプリング後、発光分光分析法 (ICP-OES) を使用)、酸化剤で消化
  • VDI 2267 Blatt 7-1988 周囲空気中の粒子の化学分析、原子吸光分析による降下煤塵の一部としてのタリウムとその無機化合物の測定
  • VDI 2267 Blatt 8-2000 周囲空気中の浮遊粒子状物質の測定 アマルガム吸着サンプリングおよび冷蒸気技術を使用した原子吸光分析 (AAS) による水銀質量濃度の測定
  • VDI 2267 Blatt 9-2002 周囲空気中の浮遊粒子状物質の測定 アマルガム吸着サンプリングおよび冷蒸気原子蛍光分析 (AFS) による水銀質量濃度の測定

VDI 2267 Blatt 15-2005 発売履歴

  • 2005 VDI 2267 Blatt 15-2005 質量分析法を使用して周囲空気中の浮遊物質を測定し、ダスト(誘導結合プラズマ)中の Al、As、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、K、Mn、Ni、Pb、Sb、V、Zn の質量濃度を測定します。 質量分析法)
  • 2004 VDI 2267 Blatt 15-2004 Stoffbestimmung an Partikeln in der Aussenluft - Messen der Massenkonzentration von As@ Ca@ Cd@ Co@ Cr@ Cu@ K@ Mn@ Ni@ Pb@ Sb@ V@ Zn als Bestandteile des Staubniederschlages mit Hilfe der Massenspektrometrie (ICP-MS)
質量分析法を使用して周囲空気中の浮遊物質を測定し、ダスト(誘導結合プラズマ)中の Al、As、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、K、Mn、Ni、Pb、Sb、V、Zn の質量濃度を測定します。
質量分析法)



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