VDI 2267 Blatt 9-2002
周囲空気中の浮遊粒子状物質の測定 アマルガム吸着サンプリングおよび冷蒸気原子蛍光分析 (AFS) による水銀質量濃度の測定

規格番号

VDI 2267 Blatt 9-2002

制定年

2002

出版団体

Association of German Mechanical Engineers

最新版

VDI 2267 Blatt 9-2002

交換する

VDI 2267 Blatt 9-2001

範囲

このガイドラインには、周囲空気中の全ガス状水銀 (TGM) の質量濃度を決定する方法が記載されています。 この方法では、元素水銀、無機水銀、または有機水銀を区別しません。 浮遊水銀の質量濃度は低いため、濃縮サンプリング法が使用されます。 分析測定は、加熱脱着後に原子蛍光分光法 (AFS) を使用して実行されます。

VDI 2267 Blatt 9-2002 規範的参照

• DIN 38402-51:1986 水、廃水および汚泥の検査のためのドイツの標準方法: 一般情報 (グループ A): パート 51: 校正を使用した分析方法の性能特性の決定、分析結果の評価および線形校正関数 (A 51)
• VDI 2267 Blatt 8-2000 周囲空気中の浮遊粒子状物質の測定 アマルガム吸着サンプリングおよび冷蒸気技術を使用した原子吸光分析 (AAS) による水銀質量濃度の測定
• VDI 2449 Blatt 1-1995 測定方法 試験規格 測定 ガス状汚染物質 (排出) の性能特性の決定

VDI 2267 Blatt 9-2002 発売履歴

• 2002 VDI 2267 Blatt 9-2002 周囲空気中の浮遊粒子状物質の測定 アマルガム吸着サンプリングおよび冷蒸気原子蛍光分析 (AFS) による水銀質量濃度の測定
• 2001 VDI 2267 Blatt 9-2001 Stoffbestimmung an Partikeln in der Aussenluft - Messen der Massenkonzentration von Quecksilber - Probenahme durch Sorption als Amalgam und Bestimmung mittels Atomfluoreszenzspectrometrie (AFS) mit Kaltdampftechnik