IEC 60749-21:2011
半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 21: はんだ付け性
- 規格番号
- IEC 60749-21:2011
- 制定年
- 2011
- 出版団体
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- 最新版
- IEC 60749-21:2011
- 交換する
- IEC 47/2082/FDIS:2011 IEC 60749-21:2005
IEC 60749-21:2011 発売履歴
- 2011 IEC 60749-21:2011 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 21: はんだ付け性
- 2005 IEC 60749-21:2005 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 21: はんだ付け性
- 2004 IEC 60749-21:2004 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 21: はんだ付け性
