IEC 60749-21:2004
半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 21: はんだ付け性

規格番号

IEC 60749-21:2004

制定年

2004

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

状態

撤回

に置き換えられる

IEC 60749-21:2005

最新版

IEC 60749-21:2011

IEC 60749-21:2004 発売履歴

• 2011 IEC 60749-21:2011 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 21: はんだ付け性
• 2005 IEC 60749-21:2005 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 21: はんだ付け性
• 2004 IEC 60749-21:2004 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 21: はんだ付け性