DIN EN 62374-1:2011
半導体デバイス パート 1: 金属層間の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) テスト (IEC 62374-1-2010) ドイツ語版 EN 62374-1-2010 + AC-2011
- 規格番号
- DIN EN 62374-1:2011
- 制定年
- 2011
- 出版団体
- German Institute for Standardization
- 状態
- に置き換えられる
- DIN EN 62374-1:2011-06
- 最新版
- DIN EN 62374-1:2011-06
- 交換する
- DIN IEC 62374-1:2008
DIN EN 62374-1:2011 発売履歴
- 2011 DIN EN 62374-1:2011-06 半導体デバイス パート 1: 金属間時間依存絶縁破壊 (TDDB) 試験
- 2011 DIN EN 62374-1:2011 半導体デバイス パート 1: 金属層間の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) テスト (IEC 62374-1-2010) ドイツ語版 EN 62374-1-2010 + AC-2011
- 0000 DIN IEC 62374-1:2008
