DIN EN 62374-1:2011-06
半導体デバイス パート 1: 金属間時間依存絶縁破壊 (TDDB) 試験

規格番号
DIN EN 62374-1:2011-06
制定年
2011
出版団体
German Institute for Standardization
最新版
DIN EN 62374-1:2011-06

DIN EN 62374-1:2011-06 発売履歴

  • 2011 DIN EN 62374-1:2011-06 半導体デバイス パート 1: 金属間時間依存絶縁破壊 (TDDB) 試験
  • 2011 DIN EN 62374-1:2011 半導体デバイス パート 1: 金属層間の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) テスト (IEC 62374-1-2010) ドイツ語版 EN 62374-1-2010 + AC-2011
  • 0000 DIN IEC 62374-1:2008
半導体デバイス パート 1: 金属間時間依存絶縁破壊 (TDDB) 試験



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