EN 15991:2011
セラミック原料および基礎材料の試験 電熱蒸着 (ETV) 誘導結合プラズマ発光分析 (ICP-OES) による炭化ケイ素の粉末および粒子中の不純物の質量分率の直接測定

規格番号
EN 15991:2011
制定年
2011
出版団体
European Committee for Standardization (CEN)
状態
に置き換えられる
EN 15991:2015
最新版
EN 15991:2015
範囲
この欧州規格は、粉末および粒状の炭化ケイ素中の Al、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Ni、Ti、V、および Zr の微量元素濃度を測定する方法を定義しています。 元素、波長、血漿状態および重量に応じて、この試験方法は、上記の微量汚染物質の質量含有量約 0.1 mg/kg ~約 1000 mg/kg、評価後は 0.001 mg/kg ~ 約 5000 mg/kg にも適用できます。 mg/kg。 注 1 一般に、誘導結合プラズマ (ICP OES) および電熱蒸発 (ETV) を使用する発光分光分析では、最大 4 桁の線形動作範囲があります。 この範囲は、重量または重量を変えることによって各要素に対して拡張できます。 異なる感度のラインを選択することによって。 適切な検証の後、この規格は、他の金属元素 (Rb と Cs を除く) および一部の非金属汚染物 (P と S など)、および炭化物、窒化物、グラファイト、すすなどの他の関連非金属粉末または粒状物質にも適用できます。 コークス、石炭、その他の酸化物。 注 2 グラファイト、B4C、Si3N4、BN、およびいくつかの金属酸化物などの材料、およびこれらの材料の一部の P および S の測定については、肯定的な経験があります。

EN 15991:2011 発売履歴

  • 2015 EN 15991:2015 セラミックスおよび基礎材料の検査電熱蒸発 (ETV) を備えた誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP OES) による粉末および炭化ケイ素の粒子不純物の質量分率の直接測定
  • 2011 EN 15991:2011 セラミック原料および基礎材料の試験 電熱蒸着 (ETV) 誘導結合プラズマ発光分析 (ICP-OES) による炭化ケイ素の粉末および粒子中の不純物の質量分率の直接測定



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