GB/T 25472-2010
分析機器の品質検査規定 (英語版)

規格番号
GB/T 25472-2010
言語
中国語版, 英語で利用可能
制定年
2010
出版団体
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
最新版
GB/T 25472-2010
範囲
この規格は分析機器の品質検査規則を定めたものです。 検査分類、検査分類、検査項目、サンプリング計画、判定ルールなど。 この規格は分析機器および機器付属品の工場検査、定期検査および型式検査に適用されます。

GB/T 25472-2010 規範的参照

  • GB 4793.1-2007 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 1: 一般要件
  • GB/T 11606-2007 分析機器の環境試験方法
  • GB/T 17626.1 電磁両立性試験および測定技術の概要、イミュニティ試験
  • GB/T 17626.10 電磁適合性試験および測定技術 減衰振動磁界イミュニティ試験*， 2017-12-29 更新するには
  • GB/T 17626.11 電磁両立性試験および測定技術 パート 11: 入力電流が 16 A 以下の各相の機器における電圧降下、短時間停電、および電圧変化に対するイミュニティ試験*， 2023-05-23 更新するには
  • GB/T 17626.12 電磁適合性試験・測定技術 第12部：リンギング波イミュニティ試験*， 2023-03-17 更新するには
  • GB/T 17626.13 電磁適合性試験および測定技術 AC 電源ポートの高調波、中間高調波、電力網信号の低周波イミュニティ試験
  • GB/T 17626.14 電磁両立性試験・測定技術 電圧変動イミュニティ試験
  • GB/T 17626.15 電磁適合性、試験および測定技術、シンチレータの機能および設計仕様。*， 2011-12-30 更新するには
  • GB/T 17626.16 電磁適合性試験および測定技術 OHZ ～ 150kHz コモンモード伝導妨害波イミュニティ試験
  • GB/T 17626.17 電磁適合性試験および測定技術 DC 電源入力ポートのリップル耐性試験
  • GB/T 17626.18 電磁適合性試験および測定技術 減衰振動波イミュニティ試験*， 2016-12-13 更新するには
  • GB/T 17626.19 電磁適合性試験および測定技術 第 19 部: AC 電源ポート 2kHz ～ 150kHz ディファレンシャルモード伝導妨害および通信信号イミュニティ試験*， 2022-12-30 更新するには
  • GB/T 17626.2 電磁適合性試験および測定技術 静電気放電イミュニティ試験*， 2018-06-07 更新するには
  • GB/T 17626.20 電磁両立性試験および測定技術 横電磁波 (TEM) 導波管におけるエミッションおよびイミュニティ試験*， 2014-12-22 更新するには
  • GB/T 17626.21 電磁両立性試験・測定技術 混合波室試験法*， 2014-12-22 更新するには
  • GB/T 17626.22 電磁適合性試験および測定技術 完全電波暗室での放射エミッションおよびイミュニティの測定*， 2017-12-29 更新するには
  • GB/T 17626.24 電磁適合性、試験および測定技術、HEMP 伝導障害保護デバイスの試験方法*， 2012-11-05 更新するには
  • GB/T 17626.27 電磁適合性試験および測定技術 三相電圧不平衡イミュニティ試験
  • GB/T 17626.28 電磁適合性試験および測定技術 電源周波数周波数変化イミュニティ試験
  • GB/T 17626.29 電磁適合性試験および測定技術 DC電源入力ポートにおける電圧低下、瞬断、電圧変動のイミュニティ試験
  • GB/T 17626.3 電磁両立性試験・測定技術 第3部：高周波電磁界放射イミュニティ試験*， 2023-12-28 更新するには
  • GB/T 17626.30 電磁両立性試験・測定技術 第30部：電力品質測定法*， 2023-12-28 更新するには
  • GB/T 17626.31 電磁適合性試験および測定技術 パート 31: AC 電源ポートの広帯域伝導妨害波イミュニティ試験*， 2021-12-31 更新するには
  • GB/T 17626.34 電磁両立性 試験および測定技術 各相あたり 16A を超える主電源電流を持つ機器の電圧降下、短時間停電、および電圧変化に関するイミュニティ テスト。*， 2012-06-29 更新するには
  • GB/T 17626.4 電磁両立性試験および測定技術 電気的高速過渡バースト耐性試験*， 2018-06-07 更新するには
  • GB/T 17626.5 電磁適合性試験および測定技術 サージ（衝撃）イミュニティ試験*， 2019-06-04 更新するには
  • GB/T 17626.6 電磁両立性 試験および測定技術 高周波電磁界によって引き起こされる伝導妨害に対する耐性。*， 2017-12-29 更新するには
  • GB/T 17626.7 電磁両立性試験・測定技術：電源システムや接続機器の高調波・中間高調波の測定と測定器のガイドライン*， 2017-07-12 更新するには
  • GB/T 17626.8 電磁適合性試験および測定技術 電源周波数磁界イミュニティ試験
  • GB/T 17626.9 電磁適合性、試験および測定技術、パルス磁界イミュニティ試験*， 2011-12-30 更新するには
  • GB/T 2828.1-2003 列挙抜き取り検査手順パート 1; 合格品質制限 (AQL) によって取得されるロットごとの抜き取り検査計画
  • GB/T 2829-2002 定期検査の計数サンプリング手順と表（プロセスの安定性の検査に適用）
  • JB/T 6214 機器信頼性確認試験および測定試験のガイドライン（指数分布）*， 2014-10-01 更新するには

GB/T 25472-2010 発売履歴

分析機器の品質検査規定


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