JIS C 1806-1:2010
測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性 (EMC) 要件 パート 1: 一般要件

規格番号
JIS C 1806-1:2010
制定年
2010
出版団体
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
状態
に置き換えられる
JIS C 61326-1:2017
最新版
JIS C 61326-1:2017
交換する
JIS C 1806-1:2001

JIS C 1806-1:2010 規範的参照

  • JIS C 60050-161:1997 国際電気用語: 電磁両立性
  • JIS C 61000-3-2:2005 電磁両立性 (EMC) パート 3-2: 制限事項 高調波電流放射の制限事項 (相ごとの機器入力電流)
  • JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性 (EMC) パート 4-11: テストおよび測定技術 電圧降下、短時間停電、および電圧変化に対する耐性のテスト
  • JIS C 61000-4-2:1999 電磁両立性 (EMC) パート 4: テストおよび測定技術 セクション 2: 静電気放電耐性テスト
  • JIS C 61000-4-3:2005 電磁両立性 (EMC) パート 4-3: テストおよび測定技術 放射線、高周波、および電磁界イミュニティ テスト
  • JIS C 61000-4-4:2007 電磁両立性 (EMC) パート 4-4: テストおよび測定技術 電気的高速過渡/バースト耐性テスト
  • JIS C 61000-4-5:2009 電磁両立性 (EMC) パート 4-5: テストおよび測定技術 サージ耐性テスト
  • JIS C 61000-4-6:2006 電磁両立性 (EMC) パート 4: テストおよび測定技術 高周波電磁場によって誘発される伝導妨害に対する耐性
  • JIS C 61000-4-8:2003 電磁両立性 (EMC) パート 4: テストおよび測定技術 セクション 8: 電源周波数磁界耐性テスト
  • JIS C 61000-6-1:2008 電磁両立性 (EMC) パート 6-1: 一般規格 住宅、商業、軽工業環境に対する耐性

JIS C 1806-1:2010 発売履歴

  • 2017 JIS C 61326-1:2017 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性 (EMC) 要件 パート 1: 一般要件
  • 2010 JIS C 1806-1:2010 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性 (EMC) 要件 パート 1: 一般要件
  • 2001 JIS C 1806-1:2001 測定、制御、実験室で使用する電気機器、電磁適合性要件
測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性 (EMC) 要件 パート 1: 一般要件



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