IEEE 1149.7-2009
設置面積を削減し、実験用アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャの機能を強化
- 規格番号
- IEEE 1149.7-2009
- 制定年
- 2009
- 出版団体
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- 状態
- に置き換えられる
- IEEE 1149.7-2022
- 最新版
- IEEE 1149.7-2022
IEEE 1149.7-2009 発売履歴
- 1970 IEEE 1149.7-2022 ピン削減と拡張機能テストのアクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャに関する IEEE 規格
- 2009 IEEE 1149.7-2009 設置面積を削減し、実験用アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャの機能を強化
