IEEE 1149.7-2022
ピン削減と拡張機能テストのアクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャに関する IEEE 規格

規格番号

IEEE 1149.7-2022

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

最新版

IEEE 1149.7-2022

IEEE 1149.7-2022 発売履歴

• 1970 IEEE 1149.7-2022 ピン削減と拡張機能テストのアクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャに関する IEEE 規格
• 2009 IEEE 1149.7-2009 設置面積を削減し、実験用アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャの機能を強化