JIS K 0190:2010
マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。

規格番号

JIS K 0190:2010

制定年

2010

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS K 0190:2010

JIS K 0190:2010 規範的参照

• ISO 17470:2004 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。

JIS K 0190:2010 発売履歴

• 2010 JIS K 0190:2010 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。