SJ/T 11404-2009
ニオブ酸リチウム集積光デバイスの一般仕様 (英語版)

規格番号

SJ/T 11404-2009

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2009

出版団体

Professional Standard - Electron

最新版

SJ/T 11404-2009

範囲

この仕様書は、ニオブ酸リチウム集積光デバイスに必要な品質評価手順、検査要件、スクリーニング、サンプリング要件、試験および測定方法の内容を規定します。 この仕様は、ニオブ酸リチウム材料で作られた強度変調器、位相変調器、光スイッチ、および光ファイバジャイロスコープ用の Y 導波路位相変調器に適用され、タンタル酸リチウム材料で作られた同様の機能を備えた集積光学デバイスは、実装を参照することができます。

SJ/T 11404-2009 規範的参照

• GB/T 18310.4-2001 光ファイバー相互接続と受動コンポーネントの基本的なテストおよび測定手順パート 2-4; 光ファイバー/ケーブル保持のテスト
• GB/T 191-2008 包装、保管、輸送の絵標識
• GB/T 2421-1999 電気・電子製品の環境試験 第 1 部 一般原則
• GB/T 2423.1-2001 電気・電子製品の環境試験その2 試験方法試験A：低温
• GB/T 2423.10-2008 電気および電子製品の環境試験 パート 2: 試験方法 試験 Fc: 振動 (正弦波)
• GB/T 2423.11-1997 電気・電子製品の環境試験 パート 2: 試験方法 試験 Fd: 広帯域ランダム振動 -- 一般要件
• GB/T 2423.2-2008 電気および電子製品の環境試験 パート 2: 試験方法 試験 B: 高温
• GB/T 2423.22-2002 電気・電子製品の環境試験その2 試験方法 試験N：温度変化
• GB/T 2423.28-2005 電気・電子製品の環境試験その2 試験方法 試験T：はんだ付け
• GB/T 2423.5-1995 電気および電子製品の環境試験パート 2、試験方法、試験 Ea およびガイドライン、影響
• GB/T 2828.1-2003 列挙抜き取り検査手順パート 1; 合格品質制限 (AQL) によって取得されるロットごとの抜き取り検査計画
• GJB 128A-1997 半導体ディスクリートデバイスの試験方法
• GJB 4026-2000 ニオブ酸リチウム集積光デバイスの一般仕様
• SJ 20869-2003 ニオブ酸リチウム集積型光導波路変調器の試験方法

SJ/T 11404-2009 発売履歴

• 2009 SJ/T 11404-2009 ニオブ酸リチウム集積光デバイスの一般仕様