SJ/T 11394-2009
半導体発光ダイオードの試験方法 (英語版)

規格番号

SJ/T 11394-2009

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2009

出版団体

Professional Standard - Electron

最新版

SJ/T 11394-2009

交換する

SJ 2355.7-1983 SJ 2355.6-1983 SJ 2355.5-1983 SJ 2355.4-1983 SJ 2355.3-1983 SJ 2355.2-1983 SJ 2355.1-1983

範囲

この規格は、半導体発光ダイオード (以下、デバイスと呼びます) の放射測定、測光、比色、電気、熱パラメータ、および電磁適合性の試験方法を指定します。 この規格は可視光および白色光の半導体発光ダイオードに適用されます。 紫外線発光ダイオード、赤外線発光ダイオード、半導体発光部品およびチップのテストを参照として実行できます。

SJ/T 11394-2009 規範的参照

• CIE 127-1997 発光ダイオード（LED）の測定
• GB/T 11499-2001 半導体ディスクリートデバイスのテキストシンボル
• GB/T 15651-1995 半導体デバイス ディスクリートデバイスおよび集積回路 第5部：光電子デバイス
• GB/T 4365-2003 電気用語 電磁両立性
• GB/T 5698-2001 色の用語
• GB/T 5702-2003 光源演色評価方法
• GB/T 7921-1997 均一色空間と色差の計算式
• GB/T 7922-2003 光源の色の測定方法

SJ/T 11394-2009 発売履歴

• 2009 SJ/T 11394-2009 半導体発光ダイオードの試験方法
• 1983 SJ 2355.1-1983 半導体発光デバイスの試験方法 一般原則

SJ/T 11394-2009 半導体発光ダイオードの試験方法 は SJ 2355.7-1983 半導体発光素子の試験方法 発光ピーク波長およびスペクトル半値幅の試験方法 から変更されます。

SJ/T 11394-2009 半導体発光ダイオードの試験方法 は SJ 2355.6-1983 半導体発光素子の試験方法 光束の試験方法 から変更されます。

SJ/T 11394-2009 半導体発光ダイオードの試験方法 は SJ 2355.5-1983 半導体発光素子の試験方法 常光強度および半値角の試験方法 から変更されます。

SJ/T 11394-2009 半導体発光ダイオードの試験方法 は SJ 2355.4-1983 半導体発光素子の試験方法 接合容量の試験方法 から変更されます。

SJ/T 11394-2009 半導体発光ダイオードの試験方法 は SJ 2355.3-1983 半導体発光素子の試験方法 逆電流試験方法 から変更されます。

SJ/T 11394-2009 半導体発光ダイオードの試験方法 は SJ 2355.2-1983 半導体発光素子の試験方法 順方向電圧降下試験方法 から変更されます。

SJ/T 11394-2009 半導体発光ダイオードの試験方法 は SJ 2355.1-1983 半導体発光デバイスの試験方法 一般原則 から変更されます。