SJ 2355.2-1983
半導体発光素子の試験方法 順方向電圧降下試験方法 (英語版)
- 規格番号
- SJ 2355.2-1983
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 1983
- 出版団体
- Professional Standard - Electron
- 状態
- 2010-01
- に置き換えられる
- SJ/T 11394-2009
- 最新版
- SJ/T 11394-2009
SJ 2355.2-1983 発売履歴
- 2009 SJ/T 11394-2009 半導体発光ダイオードの試験方法
- 1983 SJ 2355.2-1983 半導体発光素子の試験方法 順方向電圧降下試験方法
SJ 2355.2-1983 半導体発光素子の試験方法 順方向電圧降下試験方法 は SJ/T 11394-2009 半導体発光ダイオードの試験方法 に変更されます。
