GB/T 5170.10-2008
電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 高温・低温・低圧試験装置 (英語版)

規格番号

GB/T 5170.10-2008

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2008

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

状態

入れ替わる 2018-07

に置き換えられる

GB/T 5170.10-2017

最新版

GB/T 5170.10-2017

交換する

GB/T 5170.10-1996

範囲

GB/T 5170のこの部分では、高温、低温、低圧（低圧、低温、低圧、高圧を含む）の検査項目、主な機器と検査の要件、検査荷重、検査条件、検査方法およびデータ処理を規定しています。 温度および低圧）試験装置の結果および検査結果、検査サイクルなど。 この部分は GB/T 2423.21「電気および電子製品の基本的な環境試験手順 テスト M: 低空気圧試験方法」、GB/T 2423.25」に適用されます。 電気・電子製品の基本的な環境試験手順 試験 Z/AM: 低温・低気圧総合試験方法」および GB/T 2423.26「電気・電子製品の基本環境試験規則 試験 Z/BM: 高温・低圧総合試験方法」使用する試験装置の初回検査・受入検査および定期検査については、「試験方法」を参照してください。 このセクションは、同様の試験装置の検査にも適用されます。

GB/T 5170.10-2008 規範的参照

• GB/T 16839.1 熱電対パート 1: 起電力の仕様と許容差*， 2018-07-13 更新するには
• GB/T 2423.21 電気および電子製品の環境試験 パート 2: 試験方法 試験 M: 低圧*， 2008-12-30 更新するには
• GB/T 2423.25 電気・電子製品の環境試験 第2部：試験方法 試験Z/AM：低温・低圧総合試験*， 2008-12-30 更新するには
• GB/T 2423.26 電気・電子製品の環境試験 第2部：試験方法 試験Z/BM：高温・低圧総合試験*， 2008-12-30 更新するには
• GB/T 5170.1-2008 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 一般原則
• GB/T 5170.2 環境試験装置の検査方法その2：温度試験装置*， 2018-07-01 更新するには
• IEC 60751 工業用白金測温抵抗体および白金温度センサー*， 2022-01-27 更新するには

GB/T 5170.10-2008 発売履歴

• 2017 GB/T 5170.10-2017 環境試験装置の検査方法 第10部 高圧・低圧・低圧試験装置
• 2008 GB/T 5170.10-2008 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 高温・低温・低圧試験装置
• 1996 GB/T 5170.10-1996 電気・電子製品の環境試験装置の基本パラメータの校正方法 高低温・低圧試験装置

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