GB/T 5170.10-1996
電気・電子製品の環境試験装置の基本パラメータの校正方法 高低温・低圧試験装置 (英語版)

規格番号

GB/T 5170.10-1996

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1996

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

状態

入れ替わる 2009-03

に置き換えられる

GB/T 5170.10-2008

最新版

GB/T 5170.10-2017

範囲

この規格は、検証項目、検証に必要な主な機器と要件、検証条件、測定点の数とその配置位置、検証手順、データ処理と検証結果などを規定しています。 この規格は、GB2423.21-91「基本環境」に適用されます。 電気・電子製品の試験手順 試験M：低圧試験方法」、GB/T2423.25-92「電気・電子製品の基本環境試験手順 試験Z/AM：低温・低気圧総合試験方法」、GB /T2423.26-92「電気・電子製品の基本環境試験規則 試験Z/BM：高温・低圧総合試験方法」 使用した試験装置の定期的な検証。 この規格は、同様の試験装置の定期検証にも適用されます。

GB/T 5170.10-1996 発売履歴

• 2017 GB/T 5170.10-2017 環境試験装置の検査方法 第10部 高圧・低圧・低圧試験装置
• 2008 GB/T 5170.10-2008 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 高温・低温・低圧試験装置
• 1996 GB/T 5170.10-1996 電気・電子製品の環境試験装置の基本パラメータの校正方法 高低温・低圧試験装置

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