IEC 60384-1:2008
電子機器用固定コンデンサ その1 一般仕様

規格番号

IEC 60384-1:2008

制定年

2008

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEC 60384-1:2008/COR1:2008

最新版

IEC 60384-1:2021

交換する

IEC 40/1915/FDIS:2008 IEC 60384-1:1999

範囲

IEC 60384 のこの部分は一般的な仕様であり、電子機器で使用される固定コンデンサに適用されます。 品質評価やその他の目的で電子部品の断面仕様や詳細仕様に使用するための標準用語、検査手順、および試験方法を確立します。

IEC 60384-1:2008 規範的参照

• IEC 60027 電子技術におけるリテローとユーティライザーのシンボル (エディション 4.0)
• IEC 60050 国際電気技術語彙 (IEV) - 索引
• IEC 60062 正誤表 1 抵抗器およびコンデンサーのマーキング コード*， 2016-12-05 更新するには
• IEC 60063 抵抗とコンデンサの優先番号システム*， 2015-03-01 更新するには
• IEC 60068-1:1988 環境試験パート 1: 一般原則とガイダンス
• IEC 60068-2-13:1983 環境試験 Part 2-13: 試験試験 M: 低圧
• IEC 60068-2-14:1984 基本的な環境試験手順 パート 2-14: 試験試験 N: 温度変化
• IEC 60068-2-17:1994 環境試験の基本手順 パート 2-17: 試験試験 Q: シール
• IEC 60068-2-1:2007 環境試験 パート 2-1: 試験 試験 A: 低温
• IEC 60068-2-20:1979 環境試験パート2-20：試験試験T：はんだ付け
• IEC 60068-2-21:2006 環境試験 パート2-21：試験 試験U：端子および取付部品全体の強度
• IEC 60068-2-27:2008 環境テスト パート 2-27: テスト テスト Ea とガイダンス: 衝撃
• IEC 60068-2-29:1987 基本的な環境試験手順パート 2-29: 試験試験 Eb およびガイダンス: 衝突
• IEC 60068-2-2:2007 環境試験 パート 2-2: 試験 試験 B: 乾熱
• IEC 60068-2-6:2007 環境試験 パート2-6：試験 試験Fc：振動（正弦波）

IEC 60384-1:2008 発売履歴

• 2021 IEC 60384-1:2021 電子機器用固定コンデンサ その1 一般仕様
• 0000 IEC 60384-1:2016 RLV
• 2008 IEC 60384-1:2008/COR1:2008 電子機器用固定コンデンサ 第1部 一般仕様書 訂正事項1
• 2008 IEC 60384-1:2008 電子機器用固定コンデンサ その1 一般仕様
• 1999 IEC 60384-1:1999 電子機器用固定コンデンサ その1 一般仕様
• 1970 IEC 60384-1:1982/AMD4:1992 修正 4 - 電子機器で使用するための固定コンデンサ。 パート 1: 一般仕様
• 1970 IEC 60384-1:1982/AMD3:1989 修正 3 - 電子機器で使用するための固定コンデンサ。 パート 1: 一般仕様
• 1970 IEC 60384-1:1982/AMD2:1987 修正 2 - 電子機器で使用するための固定コンデンサ。 パート 1: 一般仕様
• 1970 IEC 60384-1:1982/AMD1:1985 修正 2 - 電子機器で使用する固定コンデンサ - パート 1: 一般仕様
• 1982 IEC 60384-1/AMD4:1982 電子機器の利用に関するコンデンサーの修正 パート 1 : 一般的な仕様 (エディション 2.0)
• 1970 IEC 60384-1:1982 電子機器に使用される固定コンデンサです。 パート 1: 一般仕様
• 1970 IEC 60384-1:1972/AMD1:1979 修正 1 - 電子機器で使用する固定コンデンサ - パート 1: 用語と試験方法
• 1970 IEC 60384-1:1972 電子機器用固定コンデンサーその1：用語と試験方法