ASTM E673-03
表面解析に関する標準用語
- 規格番号
- ASTM E673-03
- 制定年
- 2003
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- 2012-01
- 最新版
- ASTM E673-03
- 範囲
- 1.1 この用語は、表面分析に関わるさまざまな分野に関連しています。 1.2 リストされた定義は、(a) オージェ電子分光法 (AES)、(b) X 線光電子分光法 (XPS)、(c) イオン散乱分光法 ( ISS)、(d) 二次イオン質量分析法 (SIMS)、および (e) エネルギーイオン分析 (EIA)。
ASTM E673-03 発売履歴
- 2003 ASTM E673-03 表面解析に関する標準用語
- 2002 ASTM E673-02b 表面解析に関する標準用語
- 2002 ASTM E673-02a 表面解析に関する標準用語
- 2002 ASTM E673-02 表面解析に関する標準用語
- 2001 ASTM E673-01 表面解析に関する標準用語
- 1998 ASTM E673-98E1 表面解析に関する標準用語
