- ホーム
- ASTM E673-01
- 規格番号
- ASTM E673-01
- 制定年
- 2001
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
-
ASTM E673-02
- 最新版
-
ASTM E673-03
- 範囲
- 1.1 この用語は、表面分析に関わるさまざまな分野に関連しています。
1.2 リストされている定義は、(a) オージェ電子分光法 (AES)、(b) X 線光電子分光法 (XPS)、(c) イオン散乱分光法 (ISS)、(d) 二次イオン質量分析法 (SIMS)、 (e) 高エネルギーイオン分析 (EIA)。
ASTM E673-01 発売履歴