ASTM D4464-00(2005)
レーザー散乱による触媒材料の粒度分布測定のための標準試験方法

規格番号

ASTM D4464-00(2005)

制定年

2000

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ASTM D4464-10

最新版

ASTM D4464-15(2020)

範囲

この試験方法または異なる物理原理を利用した他の粒径測定方法によって得られた結果は一致しない可能性があることを認識することが重要です。 結果は、粒度分析の各方法で採用されている物理原理に強く影響されます。 粒子サイジング法の結果は相対的な意味でのみ使用する必要があり、他の方法で得られた結果を比較する場合に絶対的なものとみなされるべきではありません。 粒子サイズの決定に使用される光散乱理論 (フラウンホーファー回折 3 およびミー散乱 4 ) は、長年にわたって利用されてきました。 現在、いくつかの試験装置メーカーがこれらの原理に基づいたユニットを提供しています。 各タイプの試験装置は、粒子サイズの関数としての光散乱について同じ基本原理を利用していますが、理論の適用に関する異なる仮定や、光測定値を粒子サイズに変換するためのモデルの違いにより、各装置で異なる結果が生じる可能性があります。 さらに、機器のサイズ測定範囲外にある粒子は無視されるため、検出可能な範囲内で報告されるパーセンテージが増加します。 粒子サイズ分布が機器の検出限界で突然終了する場合は、範囲外の粒子が存在することを示している可能性があります。 したがって、このテスト方法を使用しても、異なる種類の機器からの直接比較可能な結果を保証することはできません。 この試験方法は、材料仕様、製造管理、および研究開発作業のために触媒および担体の粒子サイズ分布を決定するために使用できます。 1.1 この試験方法は、触媒および触媒担体粒子の粒子サイズ分布の決定をカバーしており、次の 1 つです。 いくつかは粒子サイズの測定に有用であることがわかりました。 調査した粒子サイズの範囲は、球相当直径 30 ～ 300 956μm でした。 この技術では、この範囲を超えても下でも粒子を測定できます。 粒子によって散乱されたレーザー光の角度と強度が選択的に測定され、光散乱技術を使用した体積分布の計算が可能になります。 1.2 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合でも、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM D4464-00(2005) 発売履歴

• 2020 ASTM D4464-15(2020) レーザー散乱による触媒材料の粒度分布の標準試験方法
• 2015 ASTM D4464-15 レーザー散乱による触媒材料の粒度分布の標準試験方法
• 2010 ASTM D4464-10 レーザー散乱による触媒材料の粒度分布測定のための標準試験方法
• 2000 ASTM D4464-00(2005) レーザー散乱による触媒材料の粒度分布測定のための標準試験方法
• 2000 ASTM D4464-00 レーザー散乱による触媒材料の粒度分布測定のための標準試験方法