ASTM F816-83(2003)
大型ハイブリッドマイクロ回路インサートの統合マイクロリークおよび総リークの試験方法
- 規格番号
- ASTM F816-83(2003)
- 制定年
- 1983
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- 2009-05
- 最新版
- ASTM F816-83(2003)
- 範囲
- この試験方法は、密封されたパッケージのインライン密封プロセスの品質をリアルタイムで評価します。 これにより、後でここで使用したのと同じ方法で検出するために、パッケージ内にヘリウムガスを送り込むために試料を高圧に長時間さらす必要がなくなります。 以前は、大規模または小規模の漏れを検出するには別のテスト方法が必要でした。 この方法は、採用されている検出範囲内で漏れのある試験片が検出を逃れる可能性を持たずに、すべてのテストレベルを達成するための 1 つのテストのみを提供します (実践 F 98 を参照)。 この試験方法を使用することで、開発と研究、および製造管理の両方を行うことができます。 この方法を使用すると、現在のグロス リーク テスト方法とファイン リーク テスト方法を 1 つに組み合わせることができます。 高圧処理の危険にさらされることがなく、生産環境での操作の安全性が向上します。 1.1 この試験方法は、ヘリウムの感度に等しい最小検出レベルで広範囲のサイズのリークを検出する気密パッケージのリーク試験に適用されます。 1.2 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。
ASTM F816-83(2003) 規範的参照
- ASTM E691 試験方法の精度を決定するための研究所間研究*， 1999-04-09 更新するには
- ASTM F134
- ASTM F78 二次標準を使用してヘリウム漏れ検知器を校正するための試験方法*， 1997-04-09 更新するには
- ASTM F98 気泡試験を使用して電子機器の気密性を判断するための推奨手法
ASTM F816-83(2003) 発売履歴
- 1983 ASTM F816-83(2003) 大型ハイブリッドマイクロ回路インサートの統合マイクロリークおよび総リークの試験方法
- 1983 ASTM F816-83(1998)e1 大規模なハイブリッドマイクロ回路アセンブリの微小漏れと総漏れを組み合わせた標準試験方法
