IEC 61326/COR1:2002 測定、制御、実験室で使用する電気機器、電磁適合性要件 は IEC 61326-2-4:2006 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性の要件 パート 2-4: 特定の要件 IEC 61557-9 に準拠した絶縁不良位置特定装置および IEC 61557-8 規格に準拠した絶縁監視装置のテスト構成、動作条件および性能 に変更されます。
IEC 61326/COR1:2002 測定、制御、実験室で使用する電気機器、電磁適合性要件 は IEC 61326-2-5:2006 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁両立性の要件 パート 2-5: 特定の要件 テスト構成、動作条件、インターフェイス付きフィールドデバイスの性能基準に関する IEC 61784-1、CP 3/2 に変更されます。
IEC 61326/COR1:2002 測定、制御、実験室で使用する電気機器、電磁適合性要件 は IEC 61326-2-2:2005 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性要件 パート 2-2: 特別要件 低電圧配電システムで使用される移動式テスト、測定および監視装置のテスト構成、動作条件および性能基準 に変更されます。
IEC 61326/COR1:2002 測定、制御、実験室で使用する電気機器、電磁適合性要件 は IEC 61326-2-1:2005 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性の要件 パート 2-1: 特別な要件 電磁適合性が保護されていない設置で使用される感光性テストおよび測定装置のテスト構成、動作条件および性能基準 に変更されます。
IEC 61326/COR1:2002 測定、制御、実験室で使用する電気機器、電磁適合性要件 は IEC 61326-1:2005 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性要件 パート 1: 一般要件 に変更されます。
IEC 61326/COR1:2002 測定、制御、実験室で使用する電気機器、電磁適合性要件 は IEC 61326-2-6:2005 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性要件 パート 2-6: 特別要件 実験室条件下での診断 (IVD) 医療機器 に変更されます。
IEC 61326/COR1:2002 測定、制御、実験室で使用する電気機器、電磁適合性要件 は IEC 61326-3-1:2008 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁両立性 (EMC) の要件 パート 3-1: 安全関連機能 (機能安全) を実行するために使用される安全関連システムおよび機器のイミュニティ要件 一般産業施設 に変更されます。
IEC 61326/COR1:2002 測定、制御、実験室で使用する電気機器、電磁適合性要件 は IEC 61326-3-2:2008 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁両立性 (EMC) の要件 パート 3-2: 安全関連機能 (機能安全) を実行するために使用される安全関連システムおよび機器のイミュニティ要件 指定された電磁環境を持つ産業施設 に変更されます。
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