IEC 61326-2-1:2005
測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性の要件 パート 2-1: 特別な要件 電磁適合性が保護されていない設置で使用される感光性テストおよび測定装置のテスト構成、動作条件および性能基準

規格番号

IEC 61326-2-1:2005

制定年

2005

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

状態

入れ替わる 2012-10

に置き換えられる

IEC 61326-2-1:2012

最新版

IEC 61326-2-1:2020 RLV

範囲

IEC 61326-1 の範囲に加えて、IEC 61326 のこの部分では、EMC 保護されていないテストおよび測定回路 (機器の内部および/または外部の両方) を備えた機器のより詳細なテスト構成、動作条件、および性能基準を指定します。 メーカーが指定する操作上および/または機能上の理由のため。 製造元は、製品の使用が意図されている環境を指定したり、IEC 61326-1 の適切なテスト レベル仕様を選択したりします。 注 機器の例には、オシロスコープ、ロジック アナライザ、スペクトラム アナライザ、ネットワーク アナライザ、デジタル マルチメータ (DMM)、およびボード テスト システムが含まれますが、これらに限定されません。

IEC 61326-2-1:2005 発売履歴

• 0000 IEC 61326-2-1:2020 RLV
• 2012 IEC 61326-2-1:2012 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁両立性 (EMC) 要件 パート 2-1: 詳細要件 電磁両立性の保護されていない設置で使用される感光性テストおよび測定装置のテスト構成、動作条件、および性能基準
• 2005 IEC 61326-2-1:2005 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性の要件 パート 2-1: 特別な要件 電磁適合性が保護されていない設置で使用される感光性テストおよび測定装置のテスト構成、動作条件および性能基準