KS C 2607-1980
半導体の抵抗率を測定する方法

規格番号
KS C 2607-1980
制定年
1980
出版団体
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
状態
に置き換えられる
KS C 2607-1974(2000)
最新版
KS C 2607-2002

KS C 2607-1980 発売履歴




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