KS C 2607-1974(2000)
半導体の抵抗率を測定する方法

規格番号

KS C 2607-1974(2000)

制定年

1974

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

状態

入れ替わる 2002-01

に置き換えられる

KS C 2607-2002

最新版

KS C 2607-2002

KS C 2607-1974(2000) 発売履歴

• 2002 KS C 2607-2002 半導体の試験方法
• 0000 KS C 2607-1974(2000)
• 1980 KS C 2607-1980 半導体の抵抗率を測定する方法