IEC 60539-1:2008
直熱型負温度係数サーミスタ パート 1: 一般仕様
ホーム
IEC 60539-1:2008
規格番号
IEC 60539-1:2008
制定年
2008
出版団体
International Electrotechnical Commission (IEC)
状態
入れ替わる
に置き換えられる
IEC 60539-1:2016
最新版
IEC 60539-1:2022
交換する
IEC 40/1878A/FDIS:2007
IEC 60539-1:2002
範囲
IEC 60539 のこの部分は、通常、半導体特性を持つ遷移金属酸化物材料で作られた、直接加熱される負温度係数サーミスタに適用されます。 品質評価やその他の目的で電子部品の断面仕様や詳細仕様に使用するための標準用語、検査手順、および試験方法を確立します。
IEC 60539-1:2008 規範的参照
IEC 60027-1
電気工学用のアルファベット記号 パート 1: 一般原則 技術訂正事項 1
IEC 60050
国際電気技術語彙 (IEV) - 索引
IEC 60062
正誤表 1 抵抗器およびコンデンサーのマーキング コード
*
,
2016-12-05 更新するには
IEC 60068-1:1988
環境試験パート 1: 一般原則とガイダンス
IEC 60068-2-11:1981
基本的な環境試験手順 パート 2-11: 試験試験 Ka: 塩水噴霧
IEC 60068-2-14:1984
基本的な環境試験手順 パート 2-14: 試験試験 N: 温度変化
IEC 60068-2-17:1994
環境試験の基本手順 パート 2-17: 試験試験 Q: シール
IEC 60068-2-1:2007
環境試験 パート 2-1: 試験 試験 A: 低温
IEC 60068-2-20:1979
環境試験パート2-20:試験試験T:はんだ付け
IEC 60068-2-21:2006
環境試験 パート2-21:試験 試験U:端子および取付部品全体の強度
IEC 60068-2-27:1987
環境試験パート 2-27: 試験試験 Ea およびガイダンス: 衝撃
IEC 60068-2-2:2007
環境試験 パート 2-2: 試験 試験 B: 乾熱
IEC 60068-2-6:1995
環境試験 Part2-6:試験試験Fc:振動(正弦波)
IEC 60539-1:2008 発売履歴
2022
IEC 60539-1:2022
直熱式負温度係数サーミスタ 第1部:一般仕様
2017
IEC 60539-1:2016/COR1:2017
直熱式負温度係数サーミスタ 第 1 部:一般仕様書 訂正事項 1
2016
IEC 60539-1:2016
直熱型負温度係数サーミスタ パート 1: 一般仕様
2008
IEC 60539-1:2008
直熱型負温度係数サーミスタ パート 1: 一般仕様
2002
IEC 60539-1:2002
直熱型負温度係数サーミスタ パート 1: 一般仕様
© 著作権 2024