IEC 60539-1:2008
直熱型負温度係数サーミスタ パート 1: 一般仕様

規格番号
IEC 60539-1:2008
制定年
2008
出版団体
International Electrotechnical Commission (IEC)
状態
に置き換えられる
IEC 60539-1:2016
最新版
IEC 60539-1:2022
交換する
IEC 40/1878A/FDIS:2007 IEC 60539-1:2002
範囲
IEC 60539 のこの部分は、通常、半導体特性を持つ遷移金属酸化物材料で作られた、直接加熱される負温度係数サーミスタに適用されます。 品質評価やその他の目的で電子部品の断面仕様や詳細仕様に使用するための標準用語、検査手順、および試験方法を確立します。

IEC 60539-1:2008 規範的参照

  • IEC 60027-1 電気工学用のアルファベット記号 パート 1: 一般原則 技術訂正事項 1
  • IEC 60050 国際電気技術語彙 (IEV) - 索引
  • IEC 60062 正誤表 1 抵抗器およびコンデンサーのマーキング コード*2016-12-05 更新するには
  • IEC 60068-1:1988 環境試験パート 1: 一般原則とガイダンス
  • IEC 60068-2-11:1981 基本的な環境試験手順 パート 2-11: 試験試験 Ka: 塩水噴霧
  • IEC 60068-2-14:1984 基本的な環境試験手順 パート 2-14: 試験試験 N: 温度変化
  • IEC 60068-2-17:1994 環境試験の基本手順 パート 2-17: 試験試験 Q: シール
  • IEC 60068-2-1:2007 環境試験 パート 2-1: 試験 試験 A: 低温
  • IEC 60068-2-20:1979 環境試験パート2-20:試験試験T:はんだ付け
  • IEC 60068-2-21:2006 環境試験 パート2-21:試験 試験U:端子および取付部品全体の強度
  • IEC 60068-2-27:1987 環境試験パート 2-27: 試験試験 Ea およびガイダンス: 衝撃
  • IEC 60068-2-2:2007 環境試験 パート 2-2: 試験 試験 B: 乾熱
  • IEC 60068-2-6:1995 環境試験 Part2-6:試験試験Fc:振動(正弦波)

IEC 60539-1:2008 発売履歴

  • 2022 IEC 60539-1:2022 直熱式負温度係数サーミスタ 第1部:一般仕様
  • 2017 IEC 60539-1:2016/COR1:2017 直熱式負温度係数サーミスタ 第 1 部:一般仕様書 訂正事項 1
  • 2016 IEC 60539-1:2016 直熱型負温度係数サーミスタ パート 1: 一般仕様
  • 2008 IEC 60539-1:2008 直熱型負温度係数サーミスタ パート 1: 一般仕様
  • 2002 IEC 60539-1:2002 直熱型負温度係数サーミスタ パート 1: 一般仕様



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