IEC 60747-16-2:2008
半導体デバイス パート 16-2: マイクロ波集積回路 周波数プリスケーラー

規格番号

IEC 60747-16-2:2008

制定年

2008

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 60747-16-2:2008

範囲

IEC 60747 のこの部分では、新しい測定方法、用語、文字記号に加え、集積回路マイクロ波周波数プリスケーラーの重要な定格と特性が規定されています。

IEC 60747-16-2:2008 規範的参照

• IEC 60747-1:2006 半導体デバイス パート 1: 一般
• IEC 60748-2 半導体デバイス集積回路パート 2: デジタル集積回路
• IEC 60748-3 訂正事項 1 から修正事項 2 まで 半導体デバイス集積回路パート 3: アナログ集積回路
• IEC 60748-4 半導体デバイス集積回路パート 4: インターフェース集積回路
• IEC 61340-5-1:2007 静電気 パート 5-1: 静電気現象からの電子デバイスの保護 一般要件

IEC 60747-16-2:2008 発売履歴

• 2008 IEC 60747-16-2:2008 半導体デバイス パート 16-2: マイクロ波集積回路 周波数プリスケーラー
• 2007 IEC 60747-16-2:2001/AMD1:2007 半導体デバイス パート 16-2: マイクロ波集積回路 周波数プリスケーラー
• 2001 IEC 60747-16-2:2001 半導体デバイス パート 16-2: マイクロ波集積回路周波数プリスケーラー