YD/T 1690.6-2007
電気通信機器の内部電磁放射診断（150kHz～1GHz）の技術要件と測定方法 第6部：伝導放射測定磁界プローブ法 (英語版)

規格番号

YD/T 1690.6-2007

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2007

出版団体

Professional Standard - Post and Telecommunication

最新版

YD/T 1690.6-2007

範囲

このセクションでは、微小磁界プローブを使用して非接触電流測定方式で集積回路 (IC) のピンの高周波電流を測定する方法を規定します。 この方法では、150 kHz ～ 1 GHz の周波数範囲で IC によって生成される高周波電流を測定できます。 このセクションは、単一の IC または標準テストボード上の IC の測定に適用できます: チップセットの説明と比較

YD/T 1690.6-2007 規範的参照

• GB/T 4365-2003 電気用語 電磁両立性
• YD/T 1690.1-2007 電気通信機器の内部電磁放射診断（150kHz ～ 1GHz）の技術要件と測定方法 第 1 部：一般条件と定義
• YD/T 1690.4-2007 電気通信機器の内部電磁放射診断（150kHz～1GHz）の技術要件と測定方法 第4部：伝導妨害波測定 1Ω/150Ω直結法

YD/T 1690.6-2007 発売履歴

• 2007 YD/T 1690.6-2007 電気通信機器の内部電磁放射診断（150kHz～1GHz）の技術要件と測定方法 第6部：伝導放射測定磁界プローブ法