SAE J1752/3-2003
集積回路TEM/広帯域TEM（GTEM）ユニット法による放射エミッション測定; TEMセル（150 kHz～1 GHz）、広帯域TEMセル（150 kHz～8 GHz）

規格番号

SAE J1752/3-2003

制定年

2003

出版団体

Society of Automotive Engineers (SAE)

状態

撤回

に置き換えられる

SAE J1752/3-2011

最新版

SAE J1752/3-2017

SAE J1752/3-2003 発売履歴

• 2017 SAE J1752/3-2017 集積回路からの放射の測定 EM/広帯域 TEM (GTEM) セル法、TEM セル (150 kHz ～ 1 GHz)、広帯域 TEM セル (150 kHz ～ 8 GHz)
• 2011 SAE J1752/3-2011 集積回路TEM/広帯域TEM(GTEM)ユニット法による放射エミッション測定; TEMユニット(150kHz～1GHz)、広帯域TEMユニット(150kHz～8GHz)
• 2003 SAE J1752/3-2003 集積回路TEM/広帯域TEM（GTEM）ユニット法による放射エミッション測定; TEMセル（150 kHz～1 GHz）、広帯域TEMセル（150 kHz～8 GHz）
• 1995 SAE J1752/3-1995 集積回路からの放射の測定 - Tem/ブロードバンド Tem (Gtem) セル法、Tem Cell (150 Khz ～ 1 Ghz)、ブロードバンド Tem Cell (150 Khz ～ 8 Ghz)

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