SAE J1752-2-2003
集積回路の放射エミッション測定 表面走査法（ループプローブ法） 10MHz～3GHz

規格番号

SAE J1752-2-2003

制定年

2003

出版団体

Society of Automotive Engineers (SAE)

状態

撤回

に置き換えられる

SAE J1752-2-2011

最新版

SAE J1752-2-2016

範囲

この SAE 推奨実践では、集積回路 (IC) の表面における電磁界の近接場の電気または磁気成分を評価する方法を定義しています。 この技術は、IC 内部の RF ソースの詳細なパターンを提供することができます。 パターンの解像度は、使用するプローブの特性と機械式プローブ位置決め装置の精度によって決まります。 この方法は、既存のプローブ技術を使用して 10 MHz ～ 3 GHz の周波数範囲で使用できます。 プローブは、プログラムされたパターンに従って、IC 表面に平行または垂直な面で機械的にスキャンされ、データはコンピュータ処理されて、スキャン周波数での電界強度の色強調表現が提供されます。 この手順は、スキャンプローブがアクセス可能な任意の回路基板に実装された IC からの測定に適用できます。 比較には、標準化されたテストボードを使用します。 この診断手順は、機能フロア プランや配電などの IC アーキテクチャ分析を目的としています。

SAE J1752-2-2003 発売履歴

• 2016 SAE J1752-2-2016 集積回路の放射エミッション測定 表面走査法（ループプローブ法） 10MHz～3GHz
• 2011 SAE J1752-2-2011 10 MHz ～ 3 GHz の集積回路表面走査法 (ループ検出法) を使用した放射エミッション測定
• 2003 SAE J1752-2-2003 集積回路の放射エミッション測定 表面走査法（ループプローブ法） 10MHz～3GHz
• 1995 SAE J1752-2-1995 集積回路の電磁両立性測定手順 集積回路の放射性エミッション診断手順 1 MHz ～ 1000 MHz の磁界ループ プローブの推奨実践 (1995 年 3 月)