SAE J1752-2-1995
集積回路の電磁両立性測定手順 集積回路の放射性エミッション診断手順 1 MHz ～ 1000 MHz の磁界ループ プローブの推奨実践 (1995 年 3 月)

規格番号

SAE J1752-2-1995

制定年

1995

出版団体

SAE - SAE International

状態

入れ替わる

に置き換えられる

SAE J1752-2-2003

最新版

SAE J1752-2-2016

SAE J1752-2-1995 発売履歴

• 2016 SAE J1752-2-2016 集積回路の放射エミッション測定 表面走査法（ループプローブ法） 10MHz～3GHz
• 2011 SAE J1752-2-2011 10 MHz ～ 3 GHz の集積回路表面走査法 (ループ検出法) を使用した放射エミッション測定
• 2003 SAE J1752-2-2003 集積回路の放射エミッション測定 表面走査法（ループプローブ法） 10MHz～3GHz
• 1995 SAE J1752-2-1995 集積回路の電磁両立性測定手順 集積回路の放射性エミッション診断手順 1 MHz ～ 1000 MHz の磁界ループ プローブの推奨実践 (1995 年 3 月)