DIN EN 1071-4:2006
先端工業用セラミックス セラミックコーティングの試験方法 パート 4: 電子プローブ微量分析 (EPMA) を使用した化学組成の測定

規格番号

DIN EN 1071-4:2006

制定年

2006

出版団体

German Institute for Standardization

状態

入れ替わる

に置き換えられる

DIN EN 1071-4:2006-05

最新版

DIN EN 1071-4:2006-05

交換する

DIN V ENV 1071-4:1995 DIN EN 1071-4:2004

範囲

欧州規格では、走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザーを使用した電子プローブ マイクロアナリシス (EPMA) によるセラミック コーティングの化学分析方法を指定しています。 指定された方法は、分析がサンプル表面に垂直に実行される場合の単層コーティングの検査に限定されますが、個々の層またはグラデーションの厚さが厚さより大きい場合は、段階的コーティングおよび多層コーティングも断面で分析できます。 特性 X 線または蛍光 X 線が生成される物質の体積の最大幅。 #,,#

DIN EN 1071-4:2006 規範的参照

• EN 623-4 高度な工業用セラミックス、モノリシックセラミックス、一般特性および構造特性、パート 4: 表面粗さの測定、ENV 623-4-1993 を置き換えます。*， 2024-04-09 更新するには
• EN ISO/IEC 17025 試験所および校正機関の能力に関する一般要件*， 2017-12-01 更新するには
• ISO 14594 微小電子ビーム分析、電子検出微量分析、波長分散分光法の実験パラメータ決定のガイド。*， 2014-10-01 更新するには
• ISO 15632 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様*， 2021-01-31 更新するには

DIN EN 1071-4:2006 発売履歴

• 2006 DIN EN 1071-4:2006-05 先端技術セラミックス - セラミックコーティングの試験方法 - パート 4: 電子プローブ微量分析 (EPMA) による化学組成の測定
• 2006 DIN EN 1071-4:2006 先端工業用セラミックス セラミックコーティングの試験方法 パート 4: 電子プローブ微量分析 (EPMA) を使用した化学組成の測定
• 0000 DIN EN 1071-4:2004
• 0000 DIN V ENV 1071-4:1995