IEC 61124:2006
信頼性テスト: 一定の故障率と一定の故障強度に関する適合性テスト

規格番号

IEC 61124:2006

制定年

2006

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

状態

撤回

に置き換えられる

IEC 61124:2012

最新版

IEC 61124:2023

範囲

この国際規格は、多数の最適化されたテスト計画、対応する動作特性曲線、および予想されるテスト時間を提供します。 さらに、スプレッドシート プログラムを使用してテスト計画を設計するためのアルゴリズムと、テスト計画の選択方法についてのガイダンスも提供されます。 この規格は、 – 故障率、 – 故障強度、 – 平均故障時間 (MTTF)、 – 平均故障間隔 (MTBF) の観測値が所定の要件に適合するかどうかをテストする手順を指定します。 特に明記されている場合を除き、累積テスト時間中、故障までの時間または故障間の動作時間は独立しており、同様に指数関数的に分布していると想定されます。 この仮定は、故障率または故障強度が一定であることを意味します。 4 種類のテスト計画については、次のように説明します。 – 切り捨てられた順次テスト。 – 時間/失敗によりテストが終了しました。 – 固定カレンダー時間でテストは代替なしで終了しました。 – 組み合わせたテスト計画。 この規格には、テストを計画、実行、分析、報告する方法に関するガイダンスは含まれていません。 この情報は IEC 60300-3-5 に記載されています。 この規格には試験条件は記載されていません。 この情報は、IEC 60605-2 および IEC 60605、パート 3-1 ～ 3-6 に記載されています。

IEC 61124:2006 発売履歴

• 2023 IEC 61124:2023 信頼性テスト: 一定の故障率と一定の故障強度に関する適合性テスト
• 2013 IEC 61124:2012/COR1:2013 信頼性テスト一定の故障率と一定の故障強度の複合テスト
• 2012 IEC 61124:2012 信頼性テスト: 一定の故障率と一定の故障強度に関する適合性テスト
• 2006 IEC 61124:2006 信頼性テスト: 一定の故障率と一定の故障強度に関する適合性テスト
• 1997 IEC 61124:1997 信頼性試験 一定の故障率、一定の故障密度を仮定した検証試験