IEC 61124:1997
信頼性試験 一定の故障率、一定の故障密度を仮定した検証試験
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IEC 61124:1997
規格番号
IEC 61124:1997
制定年
1997
出版団体
International Electrotechnical Commission (IEC)
状態
入れ替わる
2012-05
に置き換えられる
IEC 61124:2006
最新版
IEC 61124:2023
範囲
この国際規格は、以下の観測値が満たされているかどうかをテストする手順を規定しています。 - 故障率。 - 故障の強度。 - 故障までの平均時間。 - 故障間の平均稼働時間。 与えられた要件を満たしています。 (特に明記されている場合を除き) 観察期間中 (関連する累積テスト時間)、故障までの時間間隔、または故障間の時間間隔は独立しており、同様に指数関数的に分布していると想定されます。 注 - この仮定は、故障率または故障強度が一定であることを意味します。 次の 3 種類のテスト計画が規定されています。 - 順次テスト計画。 - 時間/障害終了テスト計画。 固定時間/障害終了テスト計画と、特定のニーズを満たすように設計できる代替時間/障害終了テスト計画を含みます。 - カレンダー時間の修正/テスト計画の失敗による終了。 テスト計画の選択に関する一般的なガイダンスは、IEC 60605-1 の 7.3 に記載されています。
IEC 61124:1997 発売履歴
2023
IEC 61124:2023
信頼性テスト: 一定の故障率と一定の故障強度に関する適合性テスト
2013
IEC 61124:2012/COR1:2013
信頼性テスト一定の故障率と一定の故障強度の複合テスト
2012
IEC 61124:2012
信頼性テスト: 一定の故障率と一定の故障強度に関する適合性テスト
2006
IEC 61124:2006
信頼性テスト: 一定の故障率と一定の故障強度に関する適合性テスト
1997
IEC 61124:1997
信頼性試験 一定の故障率、一定の故障密度を仮定した検証試験
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